自动测试产生 meaning in Chinese
automatic test generation (atg)
Examples
- Test generation , automatic
自动测试产生 - This dissertation designs a data structure , etbl , for rtl circuits for vlsi atpg
本文根据超大规模集成电路自动测试产生要求，设计了rtl电路的数据结构etbl 。 - We apply the two algorithms to generate tests for iscas - 85 and iscas - 89 benchmarks
并且在iscas - 85和iscas - 89系列veriloghdl描述的benchmark电路上分别应用这两种算法进行自动测试产生。 - This dissertation focuses on automatic test generation ( atpg ) algorithms for very large - scale integrated circuits at register - transfer - level ( rtl )
本文主要是对大规模、超大规模集成电路寄存器传输级（ rtl ）的自动测试产生算法进行研究。 - Experimental results show that more than 20 % stuck - open faults in part of is85 and iscas89 circuits can produce 2 . 5 times iddr variation , and then can be detected by iddt testing
实验结果表明，电路中相当一部分故障是i _ ( ddt )可测的。并与以前的自动测试产生算法做了比较，此算法稳定性好、速度快且可测性测度值好。